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高分辨透射电子显微镜(TEM)
高分辨透射电子显微镜(TEM)服务简介:JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera实现一体化控制。 高分辨透射电子显微镜(TEM)主要特点: 1.高亮度场发射电子枪。 2.束斑尺寸小于0.5nm。 3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。 4.稳定性好、操作简便。 5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。

应用领域: 矿业/冶金,医疗/卫生,石油化工,材料/珠宝首饰,机械

仪器类别: 分析仪器

仪器型号: JEM 2100F

所在地: 广东省 广州市

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